MotoGP: Test Sepang Day 3, Ben Spies “Non è andata male, peccato per la caduta”

MotoGP: Test Sepang Day 3, Ben Spies “Non è andata male, peccato per la caduta”MotoGP: Test Sepang Day 3, Ben Spies “Non è andata male, peccato per la caduta”

Una caduta ha rallentato il lavoro di Ben Spies nella terza ed ultima giornata di test della MotoGP a Sepang. Il pilota statunitense della Yamaha ha chiuso con l’ottavo tempo ma ha comunque provato nuovo materiale portato dalla Yamaha. A lui la parola.

“Oggi non andava male, purtroppo abbiamo avuto un piccolo incidente, ma abbiamo imparato molto e avuto modo di testare alcune nuove soluzioni elettroniche che si sono rivelate un grande miglioramento. Abbiamo anche provato altre soluzioni che sono un grande passo avanti. E’ un peccato essere caduto, ma sappiamo da questa prova che la moto ha un grande potenziale, quindi possiamo guardare a Jerez con fiducia.”

Motorionline.com è stato selezionato dal nuovo servizio di Google News,
se vuoi essere sempre aggiornato sulle nostre notizie
Seguici qui
Leggi altri articoli in MotoGP

Lascia un commento

2 commenti

You must be logged in to post a comment Login

Articoli correlati